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多传感器融合:共焦、白光干涉测量法和焦点变化三种技术集成于一台设备,实现灵活的测量配置
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共焦技术:采用获**的多针孔技术,实现超快速图像捕获,适用于从光滑表面到极粗糙表面的广泛应用场景
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干涉测量法:提供亚纳米级范围的垂直分辨率,适用于非常光滑和连续的表面以及台阶高度的超精密测量
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焦点变化技术:专为测量大型粗糙表面几何形状开发,支持倾斜度达 86° 的表面,单次测量可覆盖宽广的垂直范围
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数据质量:具备良好的精度、准确性、可重复性和可再现性,支持可追溯性和可审核性
技术规格
项目 参数 产品型号 MarSurf 3D MS SX 平台 产品货号 6350029 适用工件尺寸 轴径尺寸达 200 mm 的小型工件 测量技术 共焦、白光干涉测量法、焦点变化(多传感器集成) 典型测量任务
测量类型 具体应用 粗糙度测量 符合 ISO 21920 / 4287、ISO 13565、ISO 25178 标准 表面特征轮廓测量 体积分析、磨损评估、均向性分析 轮廓和形状 2D 及 3D 轮廓测量 孔隙分析 孔径、孔隙率检测 颗粒分析 表面颗粒物检测与统计 缺陷检测 表面缺陷识别与分析 技术优势
技术 优势 共焦 超快速图像捕获,适用于光滑至极粗糙表面,亚纳米级可重复性 干涉测量法 亚纳米级垂直分辨率,适用于光滑表面和台阶高度测量 焦点变化 适用于大型粗糙表面,支持 86° 倾斜面,宽广垂直测量范围 适用客户
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精密制造企业
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质量检验与检测机构
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材料研究与实验室
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航空航天、汽车制造等高标准零部件生产企业
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表面度量领域研究单位
使用与维护提示
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使用前请仔细阅读说明书,完成设备安装与校准
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根据测量任务选择合适的测量技术(共焦、干涉或焦点变化)
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注意工件尺寸需适配 SX 平台(轴径尺寸达 200 mm)
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使用后清洁光学系统及工作台面
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妥善保管校准证书及说明书,作为产品追溯的凭证依据
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联系电话:杨经理:18566647778
周经理:15220158886
陈经理:18811883520
公司地址:广东省 深圳市 龙华区 龙华街道 梅龙大道906号创业楼4楼
