产品名称：金属基材厚度测量计

Surfix® Easy X 系列是面向日常工业检测与实验室测量需求的通用型涂层厚度计。该系列提供集成探头型（Easy X I）与外部固定连接探头型（Easy X E）两种型号，均配备铁/金属组合测量功能（FN 型）或纯铁基测量型（F 型），采用磁感应法与涡流法（DIN EN ISO 2178 / 2360）双原理测量，具备自动基材识别、零点校准、在线统计等实用功能。设备秉承德国制造标准，适用于进货检验、生产过程控制、终检验及实验室测量等多种场景。

免校准即时测量开机即可投入测量，无需繁琐校准流程。内置自动基材识别功能，FN 型设备在探头接触被测表面时自动在磁感应法与涡流法之间切换，实现钢基与有色金属基材上涂层厚度的精准测量。

零点校准功能支持单点校准（即"归零"功能），可在粗糙表面或曲面测量场景下有效提升测量精度，满足复杂工况下的检测需求。

在线统计分析内置实时统计功能，可即时显示测量次数（n）、均值、标准差、小值及-大值，支持在测量过程中快速评估批次数据的质量分布状况。

高分辨率背光显示配备 4 位数字字母数字显示屏，字符高度 8 mm，具备背光功能，在暗光环境下仍可清晰读取测量结果。支持 μm / mils（微米 / 密尔）单位切换。

精密探测杆与稳固定位探测杆采用碳化钨极尖，耐磨性优异。探头配备大面积固定测量面，确保在被测表面上的稳定接触与定位。Easy X 系列探头设有 V 型槽结构，在圆柱面或曲面上可实现垂直定位，有效保证测量精度。

声学反馈与操作便利记录测量值时提供声学信号反馈，操作人员无需持续注视屏幕即可确认测量完成，显著提升批量检测效率。