产品名称：纳米级薄膜厚度测量仪

一、产品概述

NCG-R是马波斯基于光反射技术（Optical Reflection Technology）开发的纳米级薄膜厚度测量仪，用于对多种材料表面的薄膜层厚度进行高精度非接触式测量。系统通过分析不同表面分界面处光波的反射波形——该波形由多层薄膜的叠加效应及各层的厚度共同决定——利用训练模型反推目标薄膜层的厚度数据，测量分辨率可达数纳米级别。

NCG-R提供三种部署模式：作为独立测量设备用于实验室或检测室离线测量；连接自动化设备实现生产线的在线厚度管控；以及集成于机床内部在产品加工过程中进行实时测量。专用测头与软件设计使其在恶劣生产条件下仍保持可靠性能，使纳米级厚度测量从传统的加工后离线检测延伸至加工中实时监控。

二、技术规格

三、核心优势

• 纳米级分辨率薄膜厚度测量：NCG-R基于光反射波形分析实现数纳米级厚度分辨率，能够**测量超薄涂层、镀膜、氧化层等功能薄膜的厚度，为精密表面工程的质量控制提供可靠的量化手段。

• 多层薄膜叠加解析能力：系统通过对多层复合材料进行训练后，能够解析光波在多个分界面的叠加反射波形，从混合信号中提取目标薄膜层的厚度信息，适用于复杂膜系结构的测量。

• 机内实时测量突破传统局限：传统纳米级厚度测量几乎都需要在加工后将工件移至专用检测设备上完成。NCG-R通过专用测头与软件设计，使系统能够在加工过程中的恶劣条件下（冷却液、振动、温度变化）实时执行纳米级厚度测量，为磨削、抛光、涂层等精密加工过程的闭环控制提供了可能。

• 独立/在线/机内三模式覆盖全场景：NCG-R的三种部署模式使其从研发实验室的样品验证、生产线的批量厚度检测到机内加工过程的实时监控均能适用，同一测量技术平台覆盖薄膜厚度控制的全阶段需求。

• 恶劣生产条件的适应性设计：专用测头与软件算法针对生产现场的冷却液、粉尘、温度波动及振动等干扰因素进行了优化，确保在非实验室环境下系统仍能保持测量性能与可靠性。