产品名称：工业4.0时代的非接触式测量

一、产品概述

STIL测量系统是马波斯为工业4.0环境开发的非接触式3D计量解决方案，包含MICROMEASURE3D、PORTICO3D与MAESTRO3D等型号，在苛刻应用中实现每一点的**测量。系统基于光谱共焦技术，光学笔量程覆盖150μm至30mm，适配从微观特征到宏观轮廓的广泛分析需求。

系统提供独特的时间测量模式，支持以预定时间为参数的动态现象分析，可灵活配置为单点、线或面的测量。STIL系统工具专用于非接触式表面测量，覆盖ISO25178-602标准下的3D粗糙度、形状、3D微观几何及透明层厚度测量。MICROMEASURE 2系统可充分发挥STIL光学笔的超高性能，并可配Mountains®软件进行**测量与表面深入分析。

二、技术规格

三、核心优势

• 宽量程光学笔覆盖微观至宏观：150μm至30mm的测量范围使同一系统可从超精密表面微观粗糙度测量切换至大尺寸工件轮廓扫描，无需为不同尺寸范围配置不同的测量系统或传感器，覆盖了半导体、光学、汽车玻璃及通用机械加工的跨尺度测量需求。

• 时间测量模式支持动态现象分析：系统支持以预定时间为参数的动态测量模式，可在时间序列上连续采集单点、线或面的数据，用于分析运动工件表面的动态形变、振动幅值或随时间变化的表面状态，扩展了静态测量的应用边界。

• ISO25178-602标准下的3D表面计量：系统提供符合ISO25178-602标准的3D粗糙度参数（Sa、Sz、Sq等）、形状偏差、微观几何及透明层厚度的完整测量能力，使测量结果在国际标准框架下可比较、可追溯，避免了非标准测量方法的数据不可比性。

• 4秒级快速检测满足在线节拍：从汽车玻璃到智能手机整机的检测周期可短至4秒，系统在保持高精度光谱共焦测量能力的同时，将测量速度优化至可与批量产线节拍匹配的水平，支持100%在线全检而非仅用于离线抽样。

• 多种表面适应性：系统兼容透明材料（玻璃、薄膜）与非透明材料（金属、陶瓷）、镜面反射与漫反射表面，在同一平台上完成从高反光金属到透明玻璃、从光滑抛光表面到粗糙加工表面的测量，无需因表面特性不同而更换传感器技术。