产品名称：非接触式测量与STIL控制器单元

一、产品概述

ZENITH是马波斯推出的工业环境光谱共焦控制器新标杆，通过标准以太网通信实现高精度非接触式距离与厚度测量，无工件变形风险。控制器坚固耐用，支持24/7连续工业运行。产品分辨率超高，可测量包括反光面在内的多种表面与材质。兼容马波斯STIL全系列光学笔（CL-MG、OP、ENDO、EVEREST等），用户可根据不同测量范围与精度要求灵活选配。*高采样频率2000Hz，适配不同类型表面反光率（透明/不透明、镜面/漫反射），是工业化应用与实验室应用的通用测量平台。

二、技术规格

三、核心优势

• 标准以太网通信简化系统集成：ZENITH采用标准以太网接口，无需专用采集卡或特殊驱动程序即可连接至工业PC或PLC，在现有工厂网络架构中直接集成，支持远程访问与数据上传。

• 纳米级分辨率匹配高精度测量需求：ZENITH在全量程范围内保持纳米级分辨率，适用于半导体晶圆厚度、光学薄膜层厚、精密机械零件间隙等对测量精度有纳米级要求的应用场景。

• 24/7连续工业运行设计：ZENITH采用工业级电子元件与散热设计，在无需定期校准或维护的条件下支持全天候连续运行，适用于24小时生产的自动化产线。

• *高2000Hz采样频率适配动态测量：ZENITH*高2000Hz采样频率适用于高速运动工件的动态测量，在产线连续流转中可实时采集每件产品的尺寸数据，无需因传感器采样速度不足而降低生产线速度。

• 多种表面适应性：ZENITH适配透明材料（玻璃、薄膜、涂层）与非透明材料（金属、陶瓷、塑料）、镜面反射（抛光表面、金属镀层）与漫反射（粗糙表面、喷砂面、织物），在不同表面特性的测量任务中无需更换传感器技术，避免了因表面状态变化导致的信号丢失或测量噪声增加。