产品名称：微型点光谱共焦传感器测头

一、产品概述

ENDO系列是STIL品牌光谱共焦测量产品家族中面向微型化与狭小空间应用的专业点光谱传感器测头产品线。该系列产品以**紧凑的机械设计为核心特征，将光谱共焦测量技术的高精度、非接触优势集成于直径*小仅4 mm的微型封装中，解决了传统光学测头因体积过大而无法进入小孔径或深腔测量的行业难题。

ENDO系列测头基于光谱共焦测量原理，通过宽光谱光源经色散透镜产生轴向色散，使不同波长的光聚焦于不同距离处。被测物体表面位于聚焦范围内的某一波长光被反射回测头，由控制器解码该波长的光谱信息，从而**计算测头至被测表面的距离。该技术能够测量包括透明材料、镜面、漫反射面在内的各类材质表面，无需喷涂或特殊处理。

ENDO系列提供两种出光方向配置以满足不同测量姿态需求：直线出光版本适用于沿测头轴向的测量，适合从正前方接近被测表面；90°径向出光版本适用于测头轴向与测量方向垂直的场景，特别适合从侧面进入深孔或型腔进行内壁测量。测头为纯无源器件，不含任何有源电子元件，设计坚固可靠，可在工业环境中长期稳定工作。

ENDO系列测头兼容STIL品牌全系列光谱共焦控制器，包括ZENITH、CCS系列（PRIMA/OPTIMA+）、LIGHTMASTER及IRIX，用户可根据测量速度、精度与通道数的需求灵活选择控制器平台。测头通常以单支或多支组合方式部署，单支用于距离与轮廓测量，多支组合可实现圆度、平面度评估及缺陷检测。

二、技术规格

三、核心优势

• **微型尺寸突破空间限制：ENDO系列测头的*小机械直径仅为4 mm，这一尺寸使其能够进入传统光学测头无法企及的极小孔径（如直径5 mm以下的深孔、注塑件的微小型腔等）。对于航空航天燃油喷嘴、医疗植入物、精密模具等具有深腔或微小几何特征的零部件测量，ENDO系列提供了可行的非接触式测量方案。

• 两种出光方向适配不同测量姿态：直线出光与90°径向出光两种配置，使ENDO系列能够灵活适应不同的测量方向需求。直线版本适用于测头正对被测表面的常规部署；径向版本则解决了测头轴向受空间限制时仍需从侧面进行测量的场景，例如从孔口垂直伸入后测量孔壁内径或表面缺陷。

• 亚微米级分辨率保障精密测量：基于光谱共焦原理的测量机制，ENDO系列在微型封装内依然保持了亚微米级的测量分辨率。这一精度水平使其能够满足精密制造领域对尺寸控制与表面质量评估的严格要求。

• 纯无源设计确保长期可靠性：ENDO系列测头不含任何电子元件，为完全无源光学器件。这一设计消除了电子元器件老化与故障的可能性，使其能够在存在电磁干扰、温度变化或湿度波动等工业环境中保持稳定的测量性能，使用寿命显著优于含电子元件的有源传感器。

• 多支组合实现几何特征综合评估：ENDO测头既可单支使用，也可在控制器支持下多支并行部署。通过多支测头同时测量，可高效完成工件的圆度评定、平面度检测及表面缺陷的分布识别，为质量控制提供更**的几何数据。

• 广泛的控制器兼容性：ENDO系列兼容STIL全系列光谱共焦控制器，用户可基于现有控制器平台直接接入ENDO测头，无需额外投资。不同控制器型号提供了从2 kHz至10 kHz的采样频率选项及单通道至四通道的配置，可根据具体应用的精度与速度需求灵活匹配。